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CIGS膜中に含まれるCu-Se相の測定

目的

CIGS太陽電池において電流のリークパスの要因となる析出Cu-Seの分析を行い、開放電圧改善のための光吸収層の高品質化とその表面・界面の制御技術の開発に寄与する。

方法

・顕微レーザーラマン分析法による評価
 Cu-Se固有のピークを同定し、その析出を正確に把握する。
 マッピング測定を実施することにより、Cu-Se相の析出分布を評価する。

試験装置・ソフト

・顕微レーザーラマン分析装置 :堀場製作所/Jobin Yvon製 LabRAM HR-800

結果

ラマンスペクトルからCIGS膜中のCu-Seの析出を確認するとともに、Cu-Se相の分布状況が観察された。

お客様の成果

CIGS、CIS系太陽電池の開発に取り組んでいる顧客の製膜プロセスの評価に寄与した。

イメージ ※クリックすると拡大します。

  • 異なる測定点におけるラマンスペクトル
  • Cu-Se相(ピーク②)のマッピング結果
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