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電子部品の金箔変色部の原因調査

目的

金箔表面に生じた変色の原因を究明し、防止策を講じることを目的とした。

方法

オージェ電子分光法(AES)により金箔最表面の組成を分析するとともに、深さ方向の元素分布を測定した。

試験装置・ソフト

オージェ電子分光分析装置(AES)

結果

金箔表面の変色はAgの硫化物の形成によるもので、その厚さは10nm程度であることがわかった。

お客様の成果

電子部品の金箔の変色原因が把握でき、対策として硫化物の形成を抑える使用環境をつくることで、変色を防止することができた。

イメージ ※クリックすると拡大します。

  • 図1)変色部の元素マッピング結果
  • 図2)変色部の深さ方向元素分布

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