事業概要
Services

超低真空走査型電子顕微鏡

  • イメージ

    ※クリックすると拡大します。

  • 概要
    低真空機能付の電界放射型走査電子顕微鏡に元素分析用のEDS及び横形WDSを搭載させたもので、冷却ステージと加熱ステージを付帯〔ESEM(超低真空)用〕している。
  • 仕様
    ・形式:Quanta200FEG(日本FEI社製)
    ・観察可能倍率:12~100,000倍
           (低真空モード:12~50,000倍、超低真空200~20,000倍)
    ・冷却、加熱ステージ付帯可能で-10℃~800℃での観察が可能
    ・定性 (B~U)、半定量(B~U)、面分析(B~U)
  • 試料
    ・最大試料寸法:Φ150mm×65mm 
    ・観察可能領域:Φ50mm×40mmH
  • 特徴
    ・Field Emissionの特性として高分解能であり、高倍率の観察が可能〔高真空モード〕である。
    ・低真空モードはもとよりESEM(超低真空)モードの冷却ステージ上でも二次電子像と反射電子像が無処理ままで観察できる。またEDSによる元素分析や、ESEM(超低真空)モードでは含水試料にも対応可能〔冷却ステージ要〕である。
    ・冷却、加熱ステージにより、低温や高温状態での観察が可能である。また、動画撮影システムを有し、挙動(In-Situ)観察における動画作成や動画録画も可能である。
  • 実施例
    ・大きな試料ままで取り扱わざるを得ない事故品調査の破面観察
    ・腐食生成物や有機物(ゴム等)の非導電性物質の無処理観察(二次電子像と反射電子像併用)
    ・冷却ステージを用いた含水試料の観察(二次電子像と反射電子像併用)とEDS分析
    ・加熱ステージを用いた昇温過程における物質表面の挙動(In-Situ)観察