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物理解析分野

物理解析技術を用いた最近の分析・評価技術とサポート体制のご紹介。各種材料やデバイスの分析・解析サポートを行い、輸送機やエレクトロニクス関連事業の研究・関連支援はもちろんの事、金属・半導体業界などにおける、あたゆる研究・開発・製造トラブルの解決に対応致します。

LSI(マイコン、メモリ、ロジックなど)

  • Low-k/Cu配線膜評価
  • ゲート・STI部薄膜評価
  • 実装品の解析事例
  • 極微量化学分析
  • その他評価事例

記憶メディア

  • HD〈ハードディスク〉、DVD、CD-RW、MOなど

化合物半導体

  • 化合物半導体評価
  • 電極部位の各種評価
  • 実装品の解析技術
  • 薄膜の組成・不純物評価
  • 極微量化学分析
  • その他評価技術

FPD

  • FPD(LCD、PDPなど)

電気、電子回路部品

  • 実装品の解析技術
  • 電子部品のCAE/実験技術
  • 物性評価技術
  • 腐食評価
  • WEEE&RoHS規制他
  • その他評価事例
  • 電子デバイス製造機器の部品
  • 半導体材料
  • 工場で使用する薬品、排液、排ガス
  • 燃料電池他
  • 物理解析薄膜の評価 故障・不良解析 異物の同定・解 微分成分分析
  • 化学分析異物、付着物の同定
    微量汚染元素の定量(ウェハ表面の金属汚染など)
    ウェハ洗浄液中の不純物成分分析
    各種材料分析(金属セラミック、プラスティックなど)
    薬品の劣化調査
    電子部品から発生するガス成分分析など
  • その他技術資料
  • 展示会用配布資料
事業概要