受託試験研究
Contract test

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物理解析Physical analysis

半導体、薄膜、各種デバイスの研究開発や金属材料などの物理解析、物性調査・評価の分析・解析技術で、お客様の研究、開発、製造に係る課題解決を支援します。
物理解析

1.エレクトロニクス関連機器製品

  • LSI(マイコン、メモリ、ロジックなど)
    • Low-k/Cu配線膜評価
    • ゲート・STI部薄膜評価
    • 実装品の解析事例
    • 極微量化学分析
    • その他評価事例
  • 記憶メディア
    • HD〈ハードディスク〉、DVD、CD-RW、MOなど
  • 化合物半導体
    • 化合物半導体評価
    • 電極部位の各種評価
    • 実装品の解析技術
    • 薄膜の組成・不純物評価
    • 極微量化学分析
    • その他評価技術
  • FPD
    • FPD(LCD、PDPなど)
  • 電気、電子回路部品
    • 実装品の解析技術
    • 電子部品のCAE/実験技術
    • 物性評価技術
    • 腐食評価
    • WEEE&RoHS規制他
    • その他評価事例
    • 電子デバイス製造機器の部品
    • 半導体材料
    • 工場で使用する薬品、排液、排ガス
    • 燃料電池他

2.化学・環境分析

  • 物理解析
    • 薄膜の評価
    • 故障・不良解析
    • 異物の同定・解
    • 微分成分分析
  • 化学分析
    • 異物、付着物の同定
    • 微量汚染元素の定量(ウェハ表面の金属汚染など)
    • ウェハ洗浄液中の不純物成分分析
    • 各種材料分析(金属セラミック、プラスティックなど)
    • 薬品の劣化調査
    • 電子部品から発生するガス成分分析など

3.分析・評価一覧

4.出版物資料一覧

    • その他技術資料
    • 展示会用配布資料

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