会期 :2008年7月30日(水)〜8月1日(金) 10:00〜17:00
会場 :東京ビックサイト東ホール
コベルコ科研ブース :P-307
入場料 :無料 事前登録(当日会場でも登録可能)
コベルコ科研出展内容 ●分析・評価技術サービス、ライフタイム測定装置 各種太陽電池向け評価技術として、結晶系シリコンについてはICP-MS、 SIMS等を用いた不純物濃度分析と表面分析技術を、薄膜系太陽電池については 各種物理解析技術(SIMS,TEM,FE-SEM 等)をご紹介します。 また、検査・分析装置として、ライフタイム測定装置、基板欠陥検査装置および、 当社の技術・ノウハウを応用し製造工程の歩留まりや製品の品質向上を図る システム・ソリューションをご紹介します。
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