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「PVJapan 2008」に出展

PVJapan 2008
弊社も出展いたしました太陽光発電の総合イベント「PVJapan 2008」は、盛況の内に終了いたしました。
ご来場いただいた皆様、本当にありがとうございました。

会期     :2008年7月30日(水)〜8月1日(金) 10:00〜17:00

会場     :東京ビックサイト東ホール 

コベルコ科研ブース :P-307

入場料    :無料 事前登録(当日会場でも登録可能)

コベルコ科研出展内容

●分析・評価技術サービス、ライフタイム測定装置
各種太陽電池向け評価技術として、結晶系シリコンについてはICP-MS、 SIMS等を用いた不純物濃度分析と表面分析技術を、薄膜系太陽電池については 各種物理解析技術(SIMS,TEM,FE-SEM 等)をご紹介します。
また、検査・分析装置として、ライフタイム測定装置、基板欠陥検査装置および、 当社の技術・ノウハウを応用し製造工程の歩留まりや製品の品質向上を図る システム・ソリューションをご紹介します。

PVJapan2008公式Webサイト

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