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分析解析 試験 測定

□HOME > 事業概要 > 分析・試験・測定 > 分析解析／物理解析分野 材料分析分野｜有機分析分野｜環境分析分野｜物理解析分野｜ ■ 物理解析分野 ＜ 主要設備 ＞ ● 光学顕微鏡 ● Ｘ線回折装置 ● エネルギー分散型Ｘ線検出器-走査電子顕微鏡 ● Ｘ線マイクロアナライザー ● 電界放射型-走査電子顕微鏡 ● オージェ電子分光装置 ● 分析電子顕微鏡 ● Ｘ線光電子分光装置 ● 高分解能透過型電子顕微鏡 ● ２次イオン質量分析装置 ● 集束イオンビーム加工観察装置 　 　 ＜ 電界放出型透過電子顕微鏡＞ ［ＦＥ−ＴＥＭ］ 　本装置の特徴は、通常の透過電子顕微鏡に比べ、輝度が１０００倍以上高い電子銃を搭載していることから、電子ビームを０．５ｎｍまで絞っても十分輝度を確保することができ、原子レベルの観察や構造解析ができる点にあります。さらにエネルギー分散型分析装置、電子線速度分析およびイメージングフィルターを付属しており、ナノオーダー領域の元素のマッピングや状態分析が可能で、とりわけ従来難しかった軽元素の分析も高い検出感度で行なえることも特徴の一つです。 ▲ このページのトップへ