熱特性測定 |
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示差熱分析装置（DTA、DSC）：測定温度範囲 RT〜1500℃ |
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熱膨張測定装置（TMA）：測定温度範囲-100〜1200℃ |
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レーザフラッシュ式熱定数測定装置：測定温度範囲 RT〜1200℃ |
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熱天秤（TG）：測定温度範囲 RT〜1500℃ |
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自動変動記録装置（フォーマスタ）：最高加熱温度1300℃、冷却速度200℃/s以下 |
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加熱式自動変態記録装置（加工フォーマスタ）：最高加熱温度1300℃、最大荷量20ton |
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電気磁気特性測定 |
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電気抵抗測定装置：測定温度範囲 Lq．He、Lq．N〜1200℃ |
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直流磁気磁束計 |
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高周波磁気測定装置：測定周波数範囲 10Hz〜10MHz |
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振動試料型磁力計：最大印加磁界 15kOe |
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磁気異方性トルク計：最大印加磁界 20kOe |
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メスバウアー分光分析装置：測定温度範囲 Lq．Hz〜RT |
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応力測定 |
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PSPC微小部Ｘ線応力測定装置：最小ビーム径 0.15 |
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粘度測定 |
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振動式粘度測定装置：融点〜1500℃ 20kOe |
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粉末特性測定 |
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遠心自動粒度分布測定装置：粒度測定範囲002〜100μm |
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比表面積測定装置（MONOSORB）：表面積0.02以上 |
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ピクノメータ |
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薄膜特性測定 |
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電気抵抗測定装置：抵抗測定範囲0.01Ω以上 |
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薄膜応力測定装置：試験片の最大寸法6インチ |
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光交流法熱定数測定装置：試験片の寸法5×10×0.01〜0.3 |
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