コベルコ科研では、秘密厳守のもと お客様の課題・問題解決のサポートを致します。

環境・化学 エレクトロニクス 材料 腐食・防食 コンピュータシミュレーション 構造物

□HOME > 事業概要 > 課題解決・提案 > エレクトロニクス あらゆるエレクトロニクス関連産業の研究・開発・製造トラブルを コベルコ科研の分析・解析技術力でサポート致します。 　　エレクトロニクス関連機器製品 ●LSI（マイコン、メモリ、ロジックなど） Low-k/Cu配線膜評価 　 ゲート・STI部薄膜評価 　 実装品の解析事例 極微量化学分析 その他評価事例 ●記憶メディア HD〈ハードディスク〉、DVD、CD-RW、MOなど ●化合物半導体 化合物半導体評価 電極部位の各種評価 実装品の解析技術 薄膜の組成・不純物評価 極微量化学分析 その他評価技術 ●FPD FPD（LCD、PDPなど） ●電気、電子回路部品 実装品の解析技術 電子部品のCAE／実験技術 物性評価技術 腐食評価 WEEE&RoHS規制他 その他評価事例 電子デバイス製造機器の部品 半導体材料 工場で使用する薬品、排液、排ガス 燃料電池 他 　　環境・化学分析 物理解析 　 薄膜の評価 　 　 故障・不良解析 　 　 異物の同定・解 　 微分成分分析 化学分析 　 異物、付着物の同定 　 　 微量汚染元素の定量（ウェハ表面の金属汚染など） 　 　 ウェハ洗浄液中の不純物成分分析 　 各種材料分析（金属セラミック、プラスティックなど）薬品の劣化調査 　 　 電子部品から発生するガス成分分析など 　　分析・評価一覧 各種分析一覧 　 薄膜評価一覧 　　出版物資料一覧 その他技術資料 　 展示会用配布資料 ▲ このページのトップへ