| |
| ●半導体分野 |
| ・シリコンウェハの分析 |
| 8インチウェハ・12インチウェハの表面・裏面に存在する極微量元素の定量分析を最短即日で対応致します。 |
| |
| ・クリーンルーム環境評価 |
・サンプリングから分析・結果の解析までトータルでお手伝い致します。
・機器貸与可能（セッティングおよび回収操作マニュアル添付） |
| |
| ・液中パーティクル分析 |
| |
| ・石英等の表面、バルク微量成分分析 |
| |
| ●金属材料分析 |
| ・ＷＥＥＥおよびＲｏＨＳ指令対策 |
ＥＵ（欧州連合）における
①廃電気電子機器リサイクル（ＷＥＥＥ）指令
②特定物質の使用禁止（ＲｏＨＳ）指令
２００６年までにＨｇ、Ｃｒ（Ⅵ）、Ｃｄ、Ｐｂ、ＰＢＢ、ＰＢＤＥ を非含有とする。 |
| |
| ・ガ ス 分 析 |
| 各種材料の空孔中に閉じこめられているガスを定性・定量分析致します。 |
| |
| ・鉄鋼、非鉄等の組成分析 |
| |
| ・介在物の抽出と分析 |
| |
| ・溶液中イオンの分析 |
| |
| ●有機材料分野 |
| ・有機材料中の微量金属分析 |
| 有機材料中の微量金属成分を迅速・高感度で分析致します。(クリーンルームでの対応可能) |
| |
| ・高分子材料評価分析 |
| プラスチック・ゴム製品及び原材料（モノマー、溶媒、添加剤等）を評価致します。 |
| |
| ・樹脂・接着剤等のガス分析 |
