(1)TCO膜の光透過率測定
使用装置:分光光度計,エリプソメーター
(2)光電変換層の欠陥準位,不純物準位評価
使用装置:ICTS装置,TSC装置
(3)光電変換層のライフタイム評価→※2,3P参照
使用装置:μ-PCD法・・・2,3P参照
(4)電極膜のシート抵抗測定
使用装置:四探針測定等
(5)発電部組成分析
使用装置:EDX,FE-AES,μ-XPS,RBS/ERDA,SIMS,GD-OES等
(6)状態分析
使用装置:μ-XPS,HI-RUPE,FT-IR等
(7)結晶性評価,格子歪み評価
使用装置:EBSD,XRD,TEM,ラマン分光分析
【フレーム、カバーガラスの評価】 (1)カバーガラスの表面形状評価 |
【各種信頼性評価試験】 (1)環境試験 |
【配線部、バスバー、シャント部の評価】 (1)シート抵抗測定 |
【有機部材の評価】 (1)封止材,およびバックシートの各種分析 |
【特性評価】 (1)簡易I-V評価 |
|
本ホームページが提供する情報・映像等は権利者の許可なく複製、転載、販売などの二次利用することを固く禁じます。 本サーバ上の情報(文章・映像等)は、予告なしに変更または中止される場合があります。あらかじめご了承ください。 |