TOP > 展示会のご案内 > 「セミコン・ジャパン 2012」に出展

「セミコン・ジャパン 2012」に出展

semiconj12.jpg


コベルコ科研は、今年もSemicon Japan2012に出展致します。皆様のご来場をお待ちしています。

開催日時 :2012年12月5日(水)~7日(金)  10:00~17:00
出展場所 :幕張メッセ (1~8ホール、国際会議場)  小間番号:5A-101 (入場無料)

*次世代技術パビリオン(3D ICエリア D-08)にも展示します

コベルコ科研出展内容
新しい分析評価技術を駆使したデバイス、LED、薄膜、OLEDなどの評価解析、 開発支援サービスを紹介します。また、Si・サファイアウェーハの平坦度や エッジ形状を精密に測定する当社独自の各種検査装置を、パネル展示など により紹介します。
次世代技術パビリオンでは、TSV、BSI等の3D IC製造プロセスの貼り合せ 工程において、支持体や基板の平坦度測定や、貼り合せ状態の形状測定を 行なう装置等のパネル展示を致します。


*ご来場の際は、Webサイト(www.semiconjapan.org/ja/)からの事前登録をお奨めします。