C３コーティング

Conductive Carbon Contact(C3) Coating

Sn転写抑制、接触抵抗安定化、長寿命

半導体後工程検査プローブ用のコーティングです。支給品のプローブ先端へ導電性DLC (Diamond Like Carbon)のコーティングにより機能を付与します。

C3 Probe：半導体テスト工程で使用されるプローブに導電性DLC (Diamond Like Carbon)を成膜し、大幅な性能アップを実現。

1.C3の特徴とユーザーメリット
★高いコンタクト安定性（はんだ転写の抑制）
★トータルテストコスト低減
・プローブの長寿命化
・テスト歩留り向上
・再検査低減
・クリーニング等メンテナンス作業負荷低減
・テスター稼働率向上

2.連続コンタクト試験結果
コンタクト材：純Snメッキプレート、試験温度：85℃、コンタクト回数：50万回

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