コベルコ科研は、半導体基板（ウェハ）の検査装置で長年の実績を誇っており、それらを利用した高度な分析・解析で半導体デバイスに関わる産業・社会の様々な問題解決に貢献しています。

• ウェハ形状測定
• μ-PCDによるライフタイム測定

動解析（衝撃解析、振動解析、機構解析）の評価技術と各種試験評価技術を融合し、CAEによる机上検討の高精度化、CAEで試験を再現するための方法、CAEを設計開発プロセスへ組み込むための評価方法など、様々な課題解決のためのご提案を通じてお客様を支援いたします。

マテリアル・プロセスインフォマティクスサービス／データ・モデル販売により、お客様のデジタルトランスフォーメーション（DX）、モデルベース開発（MBD）活用による革新的・製造設計プロセスの開発、材料選択・材料設計評価の自動化を支援します。

電動車両の総合評価試験・分析・解析技術により、モデルベース開発（MBD）のプロセス構築を支援します。

電池試作、解体調査、劣化解析、MBD・CAE、安全性試験まで、最先端の評価・解析技術を駆使し、お客様の課題解決を支援します。

• 物理解析・表面分析
• 安全性評価・劣化試験
• 試作・電気特性評価
• MBD・CAE