受託試験研究
Contract test
物理解析Physical analysis
半導体、薄膜、各種デバイスの研究開発や金属材料などの物理解析、物性調査・評価の分析・解析技術で、お客様の研究、開発、製造に係る課題解決を支援します。
1.エレクトロニクス関連機器製品
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- LSI(マイコン、メモリ、ロジックなど)
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- Low-k/Cu配線膜評価
- ゲート・STI部薄膜評価
- 実装品の解析事例
- 極微量化学分析
- その他評価事例
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- 記憶メディア
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- HD〈ハードディスク〉、DVD、CD-RW、MOなど
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- 化合物半導体
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- 化合物半導体評価
- 電極部位の各種評価
- 実装品の解析技術
- 薄膜の組成・不純物評価
- 極微量化学分析
- その他評価技術
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- FPD
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- FPD(LCD、PDPなど)
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- 電気、電子回路部品
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- 実装品の解析技術
- 電子部品のCAE/実験技術
- 物性評価技術
- 腐食評価
- WEEE&RoHS規制他
- その他評価事例
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- 電子デバイス製造機器の部品
- 半導体材料
- 工場で使用する薬品、排液、排ガス
- 燃料電池他
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2.化学・環境分析
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- 物理解析
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- 薄膜の評価
- 故障・不良解析
- 異物の同定・解
- 微分成分分析
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- 化学分析
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- 異物、付着物の同定
- 微量汚染元素の定量(ウェハ表面の金属汚染など)
- ウェハ洗浄液中の不純物成分分析
- 各種材料分析(金属セラミック、プラスティックなど)
- 薬品の劣化調査
- 電子部品から発生するガス成分分析など
4.出版物資料一覧
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- その他技術資料
- 展示会用配布資料
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