製品一覧Product list TOP 半導体検査装置(LEO) 製品一覧 原理:マイクロPCD法 原理:マイクロPCD法 μ-PCD:Microwave PhotoConductivity Decay(マイクロ波光導電減衰法) レーザーにより試料に注入したキャリアの時間的変化を、マイクロ波の反射パワーで検出します。 << 半導体検査装置(LEO)に戻る