ライフタイム測定装置

Si半導体

原理:マイクロPCD法

μ-PCD:Microwave PhotoConductivity Decay(マイクロ波光導電減衰法)

レーザーにより試料に注入したキャリアの時間的変化を、マイクロ波の反射パワーで検出します。

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測定対象と装置構成

様々な試料のライフタイムを測定するための励起レーザとマイクロ波検出系の組み合わせ

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様々なバルクウェーハ

様々なバルクウェーハのタイムラップ

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鉄濃度(オプション)

μ-PCD法による鉄濃度測定

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コロナチャージ(オプション)

RTP酸化膜とコロナチャージによる表面不活化

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製品ラインナップ

社団法人電子情報技術産業協会規格(JEIDA-53)に準拠した904nmレーザと9.6GHzマイクロ波アンテナ検出部を搭載しています。
349nmレーザと26GHz差動マイクロ波アンテナ検出部などオプションで搭載が可能です。

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