ホール効果

方法

van der Pauw法によってホール効果を測定する。
この方法は、6mm×6mm程度の板状試料の4隅にオーミック電極を形成し、通電する方法である。
試験装置・ソフト

・型式：東陽テクニカ製Hall効果測定システム
・測定方法：van der Pauw法
・磁場：最大 0.5T
・測定温度範囲：80～450K
イメージ
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- ZnO単結晶薄膜における移動度の温度依存性
特徴

半導体試料に電流を流しながら磁場を印加した時、Hall効果によってこれらの垂直方向に起電力が発生する。この現象を利用して、半導体における基本的物性値である比抵抗、キャリア濃度、移動度を測定する。
実施例

ZnO単結晶薄膜における移動度の温度依存性
関連試験装置

Hall効果測定装置
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ホール効果測定による半導体の物性評価