展示会・Webセミナー
Exhibition

当社は、光・電子・光学技術（Laser-Electro-Optics: LEO）を基盤に、シリコンをはじめ各種ウェーハの計測に不可欠な高精度の検査・測定装置を製造・販売しています。
主力装置は平坦度測定装置（TAIRAシリーズ）、エッジプロファイラー、ボウ・ワープ測定装置ですが、本年のトピックは新型エッジプロファイラーで、精度、再現性を従来比大幅に改善することに成功し、このたび装置としてリリースします。
他に魔鏡、各種ソーターなど、様々なラインナップでシリコン、SiCをはじめ各種ウェーハ計測に関するお客様のニーズにお応えしてまいります。
皆さまのご来場を心からお待ちしています。

日　時：2021年12月15日（水）～12月17日（金）　10時～17時
会　場：東京ビックサイト　東展示棟・会議棟
ブース：前工程ゾーン　東4-5ホール　5023

ご来場登録は下記主催者ホームページよりお願いします。
＜外部リンク：SEMICON JAPAN公式ホームページ＞
　https://www.semiconjapan.org/jp/about/pricing-and-register

＜本お知らせに関するお問い合わせ先＞
　LEO事業本部　営業部（東京）TEL：03-3779-5303　（神戸）TEL：078-992-2985
　https://www.kobelcokaken.co.jp/inquiry/leo/
　inquiry_leo@kki.kobelco.com