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表面解析によるステンレス鋼の粒界近傍の組成分析および腐食感受性の評価

  • 目的
    ステンレス鋼の粒界近傍における組成を分析することにより、ステンレス鋼の粒界腐食感受性を調査・評価・解析した。
  • 方法
    ＦＥ-ＴＥＭ（電界放射型透過型電子顕微鏡）により、粒界近傍におけるナノスケ－ルの組成を調べた。
  • 試験装置・ソフト
    ＦＥ-ＴＥＭ（電界放射型透過型電子顕微鏡）
  • 結果
    粒界は、Ｃｒ濃度が高く、逆に粒界近傍はＣｒ濃度が低くなっていることが判明した。
  • お客様の成果
    粒界腐食感受性が鋭敏化によるＣｒ濃度偏析から予測可能になり、適切な熱処理の指針を得た。
  • イメージ

    ※クリックすると拡大します。

    • 図１）ＴＥＭ像
  • 関連個別商品
    TEM（透過型電子顕微鏡）組織観察・組成分析
  • 関連試験装置
    電界放射型透過電子顕微鏡（FE-TEM）