信頼性評価

• 電装品などの不良調査

• 半導体デバイスの故障解析

  • TSC(Thermally Stimulated Current：熱刺激電流)法による半絶縁性InP半導体中の深い準位の評価

• 実装品、電装品などの寿命評価

• クリーンテクノロジー

  • ウエハ表面パーティクル分析、汚染分析による半導体デバイスおよび装置の生産・品質管理支援

• 実装品の故障解析

  • 温度サイクル試験と走査電子顕微鏡断面観察によるPbフリーはんだボールの欠陥調査

• 電池の劣化解析