技術ノート
「こべるにくす」
Tech_library

鋳造プロセスへのシュミレーションの適用(1,542 KB)

電子後方散乱回折像(EBSP)法を利用した実装評価技術(1,586 KB)

低加速四重極型二次イオン質量分析装置(Q-SIMS)による表面分析(1,330 KB)

超臨界流体技術の試験と評価(1,686 KB)