展示会・Webセミナー
Exhibition

この度、株式会社コベルコ科研と日本電子株式会社は共催で、【半導体分野における解析技術】に関するウェビナーを実施することとなりました。

タイトル：コベルコ科研×日本電子　半導体分野における解析技術
日時：２０２４年　２月２２日（木）１４：００～１６：００
会場：Webセミナー (参加無料)
　 ＊同業他社様にはご参加をご遠慮頂いております。予めご理解のほど宜しくお願いいたします。
<申し込み外部リンク>
下記のURLまたは２次元バーコードよりお申込み下さい。
https://jeol.mrc-lp.com/20240222-2/

<セミナー内容>
半導体分野では、消費電力削減、微細化や高性能化に向け、SiCやGaN等の新材料や３次元実装など新しいデバイス構造に注目が集まっております。これら材料や構造を精度良く分析する為には、目的に応じた適切な前処理及び手法の選択が重要であることに加え、分析装置と分析技術の連携も重要な点となります。本セミナーでは４つの事例でそのエッセンスをご紹介致します。
【プログラム】
１．マクロスケールでの接合部解析技術のご紹介
　　発表者：倉内　絵里加（コベルコ科研）

２．先端実装パッケージにおける評価・解析技術のご紹介
　　発表者：中元　大成（コベルコ科研）

３．走査電子顕微鏡（SEM）-カソードルミネッセンス（CL）による化合物半導体の分析
　　発表者：朝比奈 俊輔（日本電子）

４．TEM試料Lamella作製から簡易STEM/TEM観察まで
　　発表者：河野　一郎（日本電子）

新規装置の導入や既存設備のご活用、専門メーカーへの委託といったご要望に対してもお役に立てる内容となっておりますので、是非ともご参加のご検討を頂けますようお願い申し上げます。

【本お知らせに関するお問い合わせ先】
　株式会社コベルコ科研　
　セミナー展示会事務局
　info_Ad@kki.kobelco.com