事業概要Services TOP 事業概要 技術分野から探す 物理解析 薄膜材料の評価 物理解析 化学・環境分析 機械・構造評価 計算科学 二次電池 腐食・防食 材料試験・試作 薄膜材料の評価 薄膜材料の微細組織、組成、化学状態、結晶構造、欠陥、膜厚の評価 薄膜材料の微細組織、組成、化学状態、結晶構造、欠陥、膜厚の評価 アルミニウム合金の成形性向上：EBSD法による変形組織観察と試験 後方散乱電子回折法（ EBSD/EBSP）による評価のデータ・モデル事例 イオン注入エネルギーの変化に伴うイオン注入分布および基板ダメージの評価 高誘電率材料中の元素の深さ方向分布の評価 高誘電率材料と基板界面のアニールによる組成変化の調査 Si格子ひずみ量の評価 高分解能結晶方位解析法（FESEM/EBSP法）によるCu配線膜の信頼性評価 REELS(反射電子エネルギー損失分光法）を用いたDLCの局所構造の解析・評価 高分解能ERDA（反跳散乱分析）法によるＤＬＣ膜中の水素濃度測定および解析 薄膜材料の腐食・変色原因の調査 薄膜材料の腐食・変色原因の調査 薄膜材料の物性評価 薄膜材料の物性評価 ナノインデンターを用いたDLC膜の硬度、ヤング率測定による膜質評価 多層プリント基板内局所領域における機械的特性評価 低誘電率層間絶縁膜の機械的特性評価 ホール効果測定による半導体の物性評価 ICTS(Isothermal Capacitance Transient Spectroscopy：等温過渡容量)法によるGaN半導体中の深い準位の評価 薄膜材料の特性不良原因の調査 薄膜材料の特性不良原因の調査
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