事業概要
Services
表面分析
AES分析（オージェ電子分光分析）
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- AES分析（オージェ電子分光分析）
GD-OES分析（グロー放電発光分析）
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- GD-OES分析（グロー放電発光分析）
SIMS分析（2次イオン質量分析）
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- SIMS分析（2次イオン質量分析）
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パーティクル分析
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- パーティクル分析
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RBS分析（ラザフォード後方散乱分光分析）
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- RBS分析（ラザフォード後方散乱分光分析）
レーザ顕微鏡
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- レーザ顕微鏡
EPMA分析（X線マイクロアナリシス）
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- EPMA分析（X線マイクロアナリシス）
AFM（原子間力顕微鏡）、SPM（走査型プローブ顕微鏡）
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- AFM（原子間力顕微鏡）、SPM（走査型プローブ顕微鏡）
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XPS分析（X線光電子分光分析、ESCA）
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