コベルコ科研は、目的・対象試料に応じた最適手法を、試料調製から観察・分析まで、トータルでご提案します。

コベルコ科研では、構造物の健全性維持およびカーボンニュートラル実現に向けた取り組みに対して、大型試験や数値解析の技術力と提案力により、お客様を支援いたします。

コベルコ科研は、半導体基板（ウェハ）の検査装置で長年の実績を誇っており、それらを利用した高度な分析・解析で半導体デバイスに関わる産業・社会の様々な問題解決に貢献しています。

• ウェハ形状測定
• μ-PCDによるライフタイム測定

動解析（衝撃解析、振動解析、機構解析）の評価技術と各種試験評価技術を融合し、CAEによる机上検討の高精度化、CAEで試験を再現するための方法、CAEを設計開発プロセスへ組み込むための評価方法など、様々な課題解決のためのご提案を通じてお客様を支援いたします。