事業概要
Services
物理解析
結晶構造・欠陥解析
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- 結晶構造・欠陥解析
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- アルミニウム合金の成形性向上：EBSD法による変形組織観察と試験
- 後方散乱電子回折法（ EBSD/EBSP）による評価のデータ・モデル事例
- 試料水平型強力Ｘ線回折装置 ＲＩＮＴ－ＴＴＲⅢ
- 微小部２次元Ｘ線回折測定
- Ｘ線残留応力測定（薄膜・微小部）
- Ｘ線回折による薄膜評価測定
- EBSP(後方散乱電子回折像）解析
- Hall効果測定装置
- TSC(Thermally Stimulated Current：熱刺激電流）測定装置
- TSC（熱刺激電流法）
- ICTS(Isothermal Capacitance Transient Spectroscopy：等温過渡容量分光)測定装置
- ICTS（等温過渡容量法）
表面分析
組織観察
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- 組織観察
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- 超音波顕微鏡（C-SAM）
- 反射EELS(電子エネルギー損失分光)分析装置
- 超低真空走査型電子顕微鏡
- 精密エッチング・コーティングシステム
- 電界放出形走査電子顕微鏡（結晶方位測定機能付)
- 電界放出形走査電子顕微鏡（結晶方位測定機能付）
- 電界放射型走査電子顕微鏡
- 電界放射型走査電子顕微鏡
- 超音波顕微鏡
- 断面試料調製装置 クロスセクションポリッシャー （CP：Cross-section Polisher)
- インレンズ方式走査型電子顕微鏡（In-LensSEM）
- 精密イオンポリシングシステム（Model 691 PIPS）
- 電界放射型透過電子顕微鏡（FE-TEM）
- TEM（透過型電子顕微鏡）組織観察・組成分析